| 发明名称 | 光学式检测装置、显示装置以及电子设备 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种光学式检测装置、显示装置以及电子设备。该光学式检测装置的特征在于：包含：照射部，其射出照射光；受光部，其接收被对象物反射的上述照射光；放大部，其放大上述受光部的受光检测信号；检测部，其基于上述放大部输出的信号来输出上述对象物的位置确定信息；判断部，其基于上述位置确定信息来判断上述对象物的位置；和耦合电容器，其设置在上述放大部的输出节点与上述检测部的输入节点之间。 | ||
| 申请公布号 | CN102314265A | 申请公布日期 | 2012.01.11 |
| 申请号 | CN201110184862.0 | 申请日期 | 2011.06.28 |
| 申请人 | 精工爱普生株式会社 | 发明人 | 高桥正辉 |
| 分类号 | G06F3/042(2006.01)I | 主分类号 | G06F3/042(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 李伟;王轶 |
| 主权项 | 一种光学式检测装置，其特征在于，包含：照射部，其射出照射光；受光部，其接收被对象物反射的上述照射光；放大部，其放大上述受光部的受光检测信号；检测部，其基于上述放大部输出的信号来输出上述对象物的位置确定信息；判断部，其基于上述位置确定信息来判断上述对象物的位置；和耦合电容器，其设置在上述放大部的输出节点与上述检测部的输入节点之间。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||