发明名称 | 使用离子迁移光谱仪检测分析物 | ||
摘要 | 本发明提供检测气相样品中分析物的方法和系统。本发明提供一种在其分离区域内具有过量掺杂剂的离子迁移光谱仪,用于检测分析物。在一种实施方案中,掺杂剂被直接加入分离区域中,例如使用漂移气或通过扩散加入,从而提供过量掺杂剂来控制随后的簇形成和保持。分离区域中过量的掺杂剂使得与被引入IMS中的不想要的物质(如水蒸气)相关的干扰信号降至最低或减少。在一个方面,本发明提供具有提高的灵敏度和可靠性的分析物检测IMS系统和方法。 | ||
申请公布号 | CN102318035A | 申请公布日期 | 2012.01.11 |
申请号 | CN200880109432.9 | 申请日期 | 2008.07.30 |
申请人 | 粒子监测系统有限公司 | 发明人 | D·罗迪尔 |
分类号 | H01J49/00(2006.01)I | 主分类号 | H01J49/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 | 代理人 | 钟守期;唐铁军 |
主权项 | 一种用于检测气相样品中分析物的离子迁移光谱仪,所述光谱仪包括:a.一个入口,用于将含有所述分析物的所述气相样品引入具有电离源的电离区域中;b.一个与所述电离区域流体连通的掺杂剂源,其中所述电离源从所述分析物和掺杂剂中产生离子;c.一个与所述电离区域和所述掺杂剂源流体连通的分离区域,用于基于离子迁移率接收和分离所述产生的离子;以及d.一个被定位成与所述分离区域流体连通的检测器,用于基于离子迁移率接收和检测所述离子,其中所述分离区域内的所述掺杂剂是过量的,并且所述掺杂剂连续地被引入所述分离区域中,从而向至少一部分所述分离区域中提供过量的掺杂剂。 | ||
地址 | 美国科罗拉多 |