发明名称 亚阈值MOSFET带隙基准源
摘要 本发明公开了一种抗工艺涨落的亚阈值MOSFET带隙基准源,它由负温度系数电流产生电路和启动电路、正温度系数电流产生电路、基准电压产生电路组成,其中本发明的负温度系数电流产生电路采用了体电位调制技术,将其中亚阈值NMOSFET(用于产生负温度系数电压)的体端从衬底独立出来,与本发明的调制电压发生器的输出端相连。根据实际工艺涨落情况,通过调整调制电压发生器中的变阻器,产生合适的调制电压来补偿由于工艺涨落导致的亚阈值NMOSFET阈值电压的变化,进而大大降低工艺涨落对亚阈值MOSFET带隙基准源的输出基准电压的不利影响。
申请公布号 CN101819449B 申请公布日期 2012.01.04
申请号 CN201010150345.7 申请日期 2010.04.16
申请人 上海理工大学 发明人 虞春英
分类号 G05F3/30(2006.01)I 主分类号 G05F3/30(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 王敏杰
主权项 一种亚阈值MOSFET带隙基准源,它包括启动电路(31),保证上电后整个基准源时刻处于导通工作状态;正温度系数电流产生电路(32),用于产生一个与绝对温度成正比的支路电流;负温度系数电流产生电路(33),用于产生一个与绝对温度成反比的支路电流;基准电压产生电路(34),将上述两条支路电流汇合并相互抵消温度的影响,最终产生一个零温度系数的基准电压;其特征在于:所述的负温度系数电流产生电路(33)由第一PMOSFET(MP5)、第二PMOSFET(MP6)、第三PMOSFET(MP7),第一NMOSFET(MN4)、第二NMOSFET(MN5)、偏置电阻(R2)、极点调节电容(C1)和调制电压发生器电路组成,其中调制电压发生器电路由变阻器(41)、运算放大器(42)和第一滤波电容(C3)、第二滤波电容(C4)组成;第一NMOSFET(MN4)工作在亚阈值区域,第一NMOSFET(MN4)的体端与调制电压发生器中的运算放大器(42)的输出端相连,第一NMOSFET(MN4)的源端接参考地(GND),第一NMOSFET(MN4)的漏端与第一PMOSFET(MP5)的漏端、第二NMOSFET(MN5)的栅端、极点调节电容(C1)的一端相连,极点调节电容(C1)的另一端接参考地(GND),第一NMOSFET(MN4)的栅端与偏置电阻(R2)的一端、第二PMOSFET(MP6)的漏端相连,偏置电阻(R2)的另一端接参考地(GND),第二NMOSFET(MN5)的漏端与第三PMOSFET(MP7)的漏端、第三PMOSFET(MP7)的栅端相连,第二NMOSFET(MN5)的源端和体端均接参考地(GND),第一PMOSFET(MP5)的源端和体端均接参考电源(Vdd),第二PMOSFET(MP6)的栅端与第三PMOSFET(MP7)的漏端、第三PMOSFET(MP7)的栅端相连,第二PMOSFET(MP6)和第三PMOSFET(MP7)的源端和体端均接参考电源(Vdd);在所述的调制电压发生器电路中,变阻器(41)的第一端接参考电源(Vdd),第二端接参考地(GND),第三端与运算放大器(42)的正输入端、第一滤波电容(C3)的一端相连,第一滤波电容(C3)的另一端接参考地(GND),运算放大器(42)的输出端与自身负输入端、第二滤波电容(C4)的一端相连,运算放大器(42)的输出端亦为所述的调制电压发生器电路的输出端,第二滤波电容(C4)的另一端接参考地(GND)。
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