发明名称 大功率芯片连接的低温烧结方法及纳米银膏厚度控制装置
摘要 本发明公开一种大功率芯片连接的低温烧结方法及纳米银膏厚度控制装置,方法:将已通过纳米银膏厚度控制装置设定好纳米银膏厚度的具有纳米银膏的大功率芯片结构放入在烧结炉内并放置设定的时间;给烧结炉快速升温至50℃,保温10分钟;给烧结炉快速升温至125℃,保温20分钟;给烧结炉快速升温至烧结温度,保温30-60分钟,然后炉冷至室温。装置有:加载支座,设置在加载支座内的用于放置具有纳米银膏的大功率芯片结构并测量该大功率芯片中纳米银膏厚度的测量支撑结构,以及贯穿加载支座的上端并伸入到加载支座内由上至下对测量支撑结构施加压力的加载螺钉。本发明可降低混合动力汽车的制造和维护成本,节能降耗且环保降低二氧化碳的排放。
申请公布号 CN101593712B 申请公布日期 2012.01.04
申请号 CN200910069441.6 申请日期 2009.06.26
申请人 天津大学 发明人 徐连勇;陆国权;荆洪阳
分类号 H01L21/60(2006.01)I;H01L21/00(2006.01)I 主分类号 H01L21/60(2006.01)I
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人 温国林
主权项 一种大功率芯片连接的低温烧结方法,其特征在于,包括有如下阶段:第一阶段:将已通过纳米银膏厚度控制装置设定好纳米银膏厚度的具有纳米银膏的大功率芯片结构放入在烧结炉内并放置设定的时间;第二阶段:给烧结炉快速升温至50℃,保温10分钟;第三阶段:给烧结炉快速升温至125℃,保温20分钟;第四阶段:给烧结炉快速升温至烧结温度,保温30‑60分钟,然后炉冷至室温。
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