发明名称 一种双通道差分偏振干涉成像光谱仪
摘要 本发明涉及一种双通道差分偏振干涉成像光谱仪,包括准直透镜、渥拉斯顿棱镜、萨瓦尔偏光镜、线偏振器、成像透镜、面阵探测器、连接导线及计算机处理系统;其中目标发出的光经过该双通道差分偏振干涉成像光谱仪后,利用面阵探测器即可获得目标的平行分量和垂直分量的干涉图像;经连接导线输入计算机处理系统,分别对两幅干涉图进行傅里叶变换和图像融合处理,即可反演出目标的平行分量和垂直分量的光谱图像;两光谱图像之差即为目标的差分偏振光谱图像;两光谱图像之差与两光谱图像之和的比值即为目标的线偏振度光谱图像。本发明具有结构简单紧凑、取样精确度高、稳定性好、无旋转部件、可获取目标的差分偏振光谱图像和线偏振度光谱图像的优点。
申请公布号 CN102297722A 申请公布日期 2011.12.28
申请号 CN201110260041.0 申请日期 2011.09.05
申请人 西安交通大学 发明人 张淳民;穆廷魁;高宏文;任文艺;代海山
分类号 G01J3/45(2006.01)I;G02B27/28(2006.01)I 主分类号 G01J3/45(2006.01)I
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人 田洲
主权项 一种双通道差分偏振干涉成像光谱仪,其特征在于:包括沿入射光方向依次设置的准直透镜(2)、渥拉斯顿棱镜(3)、萨瓦尔偏光镜(4)、线偏振器(5)、成像透镜(6)、面阵探测器(7)、连接导线(8)及计算机处理系统(9);其中目标(1)发出的光经准直透镜(2)准直后,被渥拉斯顿棱镜(3)在垂直于纸平面的方向内,角向剪切为振动方向正交的平行分量(I)和垂直分量(II);其中平行分量(I)被萨瓦尔偏光镜(4)在纸平面内横向剪切为两束振幅相等、振动方向正交的线偏振光,经线偏振器(5)后变成沿其偏振化方向的两束线偏振光,成像透镜(6)将它们会聚于面阵探测器(7)的一侧,产生平行分量的干涉图像;而垂直分量(II)也被萨瓦尔偏光镜(4)在纸平面内横向剪切为两束振幅相等、振动方向正交的线偏振光,经线偏振器(5)后变成沿其偏振化方向的两束线偏振光,成像透镜(6)将它们会聚于面阵探测器(7)的另一侧,产生垂直分量的干涉图像;面阵探测器(7)同时获取目标的平行分量和垂直分量的干涉图像;利用时空混合窗扫技术即可获得目标的平行分量和垂直分量的完整序列干涉图像;经连接导线(8)输入计算机处理系统(9)进行傅里叶变换处理,便可得到目标的平行分量和垂直分量的光谱强度;利用图像融合算法即可得到目标的平行分量和垂直分量的光谱图像;两光谱图像之差即为目标的差分偏振光谱图像;两光谱图像之差与两光谱图像之和的比值即为目标的线偏振度光谱图像。
地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号