发明名称 |
Verfahren zur Bestimmung einer Strahlungsschwächung in einem Positronenemissionstomographen |
摘要 |
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung einer Strahlungsschwächung aufgrund eines Gegenstandes (7) in einem Positronenemissionstomographen (2). Bei dem Verfahren wird ein Phantomobjekt (6) in dem Positronenemissionstomographen (2) angeordnet. Während der Gegenstand (7) nicht in dem Positronenemissionstomographen (2) angeordnet ist, werden erste Strahlungsrohdaten des Phantomobjekts (6) erfasst. Aus den ersten Strahlungsrohdaten wird ein erstes Bild des Phantomobjekts (6) berechnet. Dann wird der Gegenstand (7) in dem Positronenemissionstomographen (2) angeordnet und eine vorläufige Strahlungsschwächung des Gegenstandes (7) festgelegt. Während der Gegenstand (7) in dem Positronenemissionstomographen (2) angeordnet ist, werden zweite Strahlungsrohdaten des Phantomobjekts (6) erfasst. Aus den zweiten Strahlungsrohdaten wird ein zweites Bild des Phantomobjekts (6) untächung berechnet. Die Strahlungsschwächung wird auf Grundlage des ersten Bildes und des zweiten Bildes kalibriert.
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申请公布号 |
DE102010024139(A1) |
申请公布日期 |
2011.12.22 |
申请号 |
DE20101024139 |
申请日期 |
2010.06.17 |
申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
FENCHEL, MATTHIAS;LADEBECK, RALF |
分类号 |
A61B6/03;A61B5/055;G01T1/164;G06T11/00 |
主分类号 |
A61B6/03 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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