发明名称 一种记忆体结构及其制作方法
摘要
申请公布号 TWI355046 申请公布日期 2011.12.21
申请号 TW096125082 申请日期 2007.07.10
申请人 南亞科技股份有限公司 桃園縣龜山鄉華亞科技園區復興三路669號 发明人 萧清南;庄英政;黄仲麟;丘世仰
分类号 H01L21/8247 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人 戴俊彦 新北市永和区福和路389号6楼之3;吴丰任 新北市永和区福和路389号6楼之3
主权项 一种记忆体元件的制作方法,包含有:提供一基底,其上包含一垫层;于该垫层中形成一开口;于该开口的侧壁上形成一第一侧壁子;于该开口内填满一牺牲层;移除部分该犠牲层,使得剩余的该犠牲层之表面低于该第一侧壁子表面;去除该第一侧壁子,暴露出部分的该基底;利用该牺牲层以及该垫层为遮罩,蚀刻该基底,形成一第一沟渠与一第二沟渠;去除该犠牲层,暴露出一通道区域;于该第一沟渠、该第二沟渠与该通道区域之表面形成一第一介电层;形成一第一导电层,并使其填满该开口、该第一沟渠与该第二沟渠;移除该第一导电层,以部分暴露出该通道区域之表面;于该第一导电层之表面与该通道区域之表面上形成一第二介电层;于该开口内沉积一第二导电层,并使其填满该开口;以及去除该垫层。
地址 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号