发明名称 开尔文测试分选用导线架及金手指结构
摘要 本发明涉及一种开尔文测试分选用导线架及金手指结构,其包括架体;所述架体的一端设有测试分选连接区,架体的另一端设有基座定位安装区,所述基座定位安装区及测试分选连接区上设有若干管脚,所述管脚沿架体的轴线长度方向分布。本发明架体的一端形成测试分选连接区,另一端形成基座定位安装区;基座定位安装区与测试分选连接区一体制造成型,避免了焊接时造成的短路、虚焊及分布电容不一致的情况;测试分选连接区与现有导线架结构相同,基座定位安装区在定位安装绝缘体上形成基座接插区,基座接插区与HSOP型功率集成电路相连;测试分选精度高,结构简单紧凑,测试分选方便,使用寿命长,适用性好,测试成本低,安全可靠。
申请公布号 CN102288791A 申请公布日期 2011.12.21
申请号 CN201110119477.8 申请日期 2011.05.10
申请人 无锡市汇博普纳电子有限公司 发明人 殷友桃
分类号 G01R1/04(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所 32104 代理人 曹祖良
主权项 一种开尔文测试分选用导线架,包括架体(13);其特征是:所述架体(13)的一端设有测试分选连接区(11),架体(13)的另一端设有基座定位安装区(8),所述基座定位安装区(8)及测试分选连接区(11)上设有若干管脚(9),所述管脚(9)沿架体(13)的轴线长度方向分布。
地址 214037 江苏省无锡市北塘区江海西路888号