用于芯片测试的探针卡的测试方法

摘要

本发明公开了一种用于芯片测试的探针卡；包括逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口；逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口分别通过共用测试通道与探针相连，逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口之间连有测试通信通道。本发明同时还提供了一种上述探针卡的测试方法，能够对逻辑测试与存储器测试进行切换和控制。因为本发明将逻辑测试仪与存储器测试仪的接口同时设置在一个探测卡上，且在两接口内部又设置了共用测试通道和测试通信通道，实现对原来需要多平台测试的项目可以在一次扎针的情况下完成测试。

主权项

一种用于芯片测试的探针卡的测试方法，所述探针卡包括逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口；所述逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口分别通过共用测试通道与探针相连，所述的逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口之间连有测试通信通道，其特征在于，包括如下步骤：(1)所述逻辑测试仪接口与所述共用测试通道断开，通过所述测试通信通道查询触发信号；所述存储器测试仪接口与所述共用测试通道连接，存储器测试仪通过所述探针进行探测；(2)存储器测试仪完成探测后将所述存储器测试仪接口与所述共用测试通道断开，进行数据处理，并通过所述测试通信通道向逻辑测试仪发送触发信号，然后等待所述逻辑测试仪发送的触发信号；(3)所述逻辑测试仪接收到所述触发信号后，将所述逻辑测试仪接口与所述共用测试通道连接，进而通过所述探针进行探测；(4)所述逻辑测试仪完成探测后将所述逻辑测试仪接口与所述共用测试通道断开，进行数据处理，并通过所述测试通信通道向存储器测试仪发送触发信号，然后等待所述存储器测试仪发送的触发信号；(5)所述存储器测仪接收到触发信号后，将所述存储器测试仪接口与所述共用测试通道连接，进而通过所述探针进行探测；(6)重复步骤(2)至步骤(5)，直到测试结束。