发明名称 | 热流型差示扫描量热仪 | ||
摘要 | 本发明的目的在于提供一种提高了基线稳定性和响应性的差示扫描量热仪。在从储热器(1)向传感器板(4)流入热的热流路上制作颈状部,在确保稳定性的同时,确保向试样保持器(5a)流入热的二维热流路。 | ||
申请公布号 | CN101258401B | 申请公布日期 | 2011.12.14 |
申请号 | CN200680032258.3 | 申请日期 | 2006.08.23 |
申请人 | 精工电子纳米科技有限公司 | 发明人 | 木下良一 |
分类号 | G01N25/20(2006.01)I | 主分类号 | G01N25/20(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 温大鹏;廖凌玲 |
主权项 | 一种热流型差示扫描量热仪,包括:储热器,由具有圆柱状的内部空间的带底板的热良导体构成;凸状的突起结构,在前述储热器的底板上设置在比圆柱形状的内周靠内侧的位置;传感器板,固定在前述突起结构上;试样保持器和参照物保持器,设置在前述传感器板上;和从前述突起结构向前述试样保持器及参照物保持器流入热的二维热流路径,其特征在于,向试样保持器流入热的二维热流路径呈与试样保持器大致同心的圆状,并且形成为占前述同心圆圆周的大约1/4到大约一半的形状。 | ||
地址 | 日本千叶县 |