发明名称 低电压带隙基准源的安全启动电路
摘要 本发明公开了一种低电压带隙基准源的安全启动电路,包括电流源产生电路,带隙基准源的启动电路,带隙基准源主体电路,带隙基准源的启动电路包括M42,其栅极与电流源产生电路的输出相连接,源极接电源电压Vdd,漏极与M30的漏极以及M35的栅极相连接,M30的源极与Q3的发射极相连接,M30的栅极与M35的源极相连接,M30的衬底和源极短接并接入Q3的发射极,其基极和集电极短接并与地相连,M35的漏极接Vdd,且衬底接地,M32的衬底接地,漏极接M35的源极,并与M30的栅极相连接,M32的源极与INN相连接。本发明能在极低的电压下保证带隙基准源的安全启动。
申请公布号 CN101644938B 申请公布日期 2011.12.14
申请号 CN200810043689.0 申请日期 2008.08.06
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 何剑华;李兆桂
分类号 G05F3/16(2006.01)I;H03K17/687(2006.01)I 主分类号 G05F3/16(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 丁纪铁
主权项 一种低电压带隙基准源的安全启动电路,包括依次连接的电流源产生电路,带隙基准源的启动电路,带隙基准源主体电路,该电流源产生电路产生带隙基准源启动电路中运放工作的偏置电流,其特征在于,所述的带隙基准源的启动电路包括第一P型晶体管,其栅极与电流源产生电路的输出相连接,源极接电源电压Vdd,漏极与第一N型本征晶体管的漏极以及第二N型晶体管的栅极相连接,第一N型本征晶体管的源极与第一PNP三极管的发射极相连接,第一N型本征晶体管的栅极与第二N型晶体管的源极相连接,并且,第一N型本征晶体管的衬底和源极短接并接入第一PNP三极管的发射极,第一PNP三极管的基极和集电极短接并与地相连,第二N型晶体管的漏极接电源电压Vdd,且衬底接地,第三N型本征晶体管的衬底接地,漏极与栅极短接后接第二N型晶体管的源极,并与第一N型本征晶体管的栅极相连接,第三N型本征晶体管的源极与带隙基准源主体电路中的运放的负输入端INN相连接,带隙基准源主体电路中包含第二P型晶体管,其源极与第三N型本征晶体管的源极以及运放的负输入端INN相连接,第一电阻一端与运放的负输入端INN相连接,另一端接地,第二PNP三极管的发射极与运放负输入端INN相连接,基极与集电极短接并且接地,第一P型晶体管上的电流用Ibias表征,而第二P型晶体管上的电流用Ibgr来表征,运放负输入端的电位以VINN表征,运放负输入端的电位VINN为第一电阻上的电压或第二PNP三极管上的电压,第一P型晶体管上的电流Ibias送入第一PNP三极管和第一N型本征晶体管产生了启动电位Vstart,即第三N型本征晶体管的栅电位,当Vstart‑VINN>第三N型本征晶体管的阈值电压Vth,则第三N型本征晶体管会导通,则VINN将会被拉高,最终达到Vstart‑Vth。
地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号
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