用于测试分选机的开放装置

摘要

本发明涉及用于测试分选机的开放装置，根据本发明，揭示了即使在操作载板的插口的固定部件被操作为解除半导体元件的固定的状态下也可通过使开放板的上面和插口底面之间保持预定间隔来防止插口故障的技术。所述用于测试分选机的开放装置特征在于包括开放板，位于载板插口的下侧，并具备开放销，该开放销能够通过操作用于固定装载于载板插口的半导体元件的固定部件而解除半导体元件的固定状态；驱动源，使所述开放板向载板插口侧前进或从载板插口后退，在所述开放板向所述载板插口侧前进，并以通过所述开放销解除固定的状态完成固定部件的操作时，在所述开放板与插口之间保持预定间隔。

主权项

一种用于测试分选机的开放装置，其特征在于包括：开放板，位于载板插口的下侧，并具备开放销，该开放销能够通过操作用于固定装载于载板插口的半导体元件的固定部件而解除半导体元件的固定状态；驱动源，使所述开放板向载板插口侧前进或从载板插口后退，在所述开放板向载板插口侧前进时，通过所述开放销操作固定部件解除固定状态，在所述开放板从载板插口侧后退时，通过所述开放销解除固定部件的操作状态而保持固定的状态，在所述开放板向所述载板插口侧前进，并以通过所述开放销解除固定的状态完成固定部件的操作时，在所述开放板与插口之间保持预定间隔。