| 发明名称 |
记忆体测试方法 |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
TWI354294 |
申请公布日期 |
2011.12.11 |
| 申请号 |
TW096147080 |
申请日期 |
2007.12.10 |
| 申请人 |
旺宏電子股份有限公司 新竹市新竹科學工業園區力行路16號 |
发明人 |
张钦鸿;何文乔;张坤龙;洪俊雄 |
| 分类号 |
G11C29/08 |
主分类号 |
G11C29/08 |
| 代理机构 |
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代理人 |
祁明辉 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼之2;林素华 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼之2 |
| 主权项 |
一种记忆体测试方法，包括：从该记忆体读取一资料，并将该资料储存至该记忆体内部之一第一暂存记忆体，同时，将一预期资料从一测试器写入该记忆体内部之一第二暂存记忆体，该预期资料系相对应于该资料；以及比较该第一暂存记忆体内之该资料与该第二暂存记忆体内之该预期资料以判断该记忆体是否具有足够之一操作区间；其中，当该资料相同于该预期资料，该记忆体被判断为具有足够之该操作区间。 |
| 地址 |
新竹市新竹科学工业园区力行路16号 |
