发明名称 提供基于平均阈值的刷新机制的存储器件和方法
摘要 本发明涉及一种非易失性存储器件,包括:存储器阵列(10、20),具有设置为多行和多列的多个存储器单元(100、200);位线导线(12、22),与存储器单元的所述行相连;平均电路(11、21),具有与多个所述位线导线(12、22)相连的输入,所述平均电路(11、21)被设置成确定所述多个位线导线(12、22)上的各自模拟信号电平的平均电平;监测电路(13、23),与所述平均电路(11、21)相连,所述监测电路(13、23)被设置成监测所述平均电平,并且当所述平均电平表现出预定行为时输出刷新命令;以及刷新电路(15、25),与所述监测电路(13、23)相连,并且设置成响应于所述刷新命令,对所述多个存储器单元(100、200)的至少一个选择进行刷新。
申请公布号 CN101044578B 申请公布日期 2011.12.07
申请号 CN200580036129.7 申请日期 2005.10.17
申请人 NXP股份有限公司 发明人 约翰尼斯·F·R·布莱克奎尔;维克托·M·G·范阿赫特
分类号 G11C16/34(2006.01)I 主分类号 G11C16/34(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 王波波
主权项 一种非易失性存储器件,包括:存储器阵列(10、20),具有设置为多行和多列的多个存储器单元(100、200);位线导线(12、22),与存储器单元的所述行相连;选择装置(26),与所述多个位线导线(22)相连,所述选择装置(26)被设置成从所述多个位线导线(22)的各自模拟信号电平中,选择分配给至少一个预定逻辑状态的数据信号的那些;平均电路(11、21),具有与多个所述位线导线(12、22)相连以及与所述选择装置(26)的输入,所述平均电路(11、21)被设置成确定所述选择装置(26)选择的所述多个位线导线(12、22)上的各自模拟信号电平的选定平均电平;监测电路(13、23),与所述平均电路(11、21)相连,所述监测电路(13、23)被设置成监测选定平均电平,并且被设置成将所述选定平均电平与根据全部所述多个位线导线(12、22)的各自模拟信号电平确定的全部平均电平进行比较,并且在所述选定平均电平表现出预定行为时取决于比较的结果输出刷新命令;刷新电路(15、25),与所述监测电路(13、23)相连,并且设置成响应于所述刷新命令,对所述多个存储器单元(100、200)的至少一个选样进行刷新。
地址 荷兰艾恩德霍芬