发明名称 取向单层碳纳米管集合体、块状取向单层碳纳米管集合体、粉体状取向单层碳纳米管集合体、及其制造方法
摘要 本发明提供一种取向单层碳纳米管集合体,可以容易制造,比表面积大,一根一根的碳纳米管(CNT)取向于规则的方向,且松密度低,因此具有成型加工性。所述取向单层碳纳米管集合体具备:基板、设置于该基板上且个数密度为1×1010~5×1013个/cm2的催化剂微粒、从该催化剂微粒成长的多个单层CNT,其中,所述多个单层CNT,比表面积为600m2/g~2600m2/g,且重量密度为0.002g/cm3~0.2g/cm3,并且其取向度用特定的条件来定义。
申请公布号 CN102272045A 申请公布日期 2011.12.07
申请号 CN200980153232.8 申请日期 2009.12.28
申请人 独立行政法人产业技术综合研究所 发明人 畠贤治;D·N·弗塔巴;汤村守雄
分类号 C01B31/02(2006.01)I;B01J23/745(2006.01)I;B01J37/02(2006.01)I;B01J37/34(2006.01)I 主分类号 C01B31/02(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 李帆
主权项 一种取向单层碳纳米管集合体,其具备基材、设置于该基材上的个数密度为1×1010~5×1013个/cm2的催化剂微粒、和从该催化剂微粒延伸而形成集合体的多个单层碳纳米管,其特征在于,所述单层CNT的比表面积为600m2/g~2600m2/g,且重量密度为0.002g/cm3~0.2g/cm3,并且其取向度用下述条件的至少任一个来定义:1.在从与碳纳米管的长度方向平行的第一方向、和与该第一方向垂直的第二方向入射X射线来测定X射线衍射强度(θ‑2θ法)的情况下,存在来自所述第二方向的反射强度比来自所述第一方向的反射强度大的θ角和反射方位,且存在来自所述第一方向的反射强度比来自所述第二方向的反射强度大的θ角和反射方位;2.在用二维衍射图像来测定X射线衍射强度(劳厄法)的情况下,出现显示各向异性存在的衍射峰图案,所述二维衍射图像是从与碳纳米管的长度方向垂直的方向入射X射线而得到的;3.赫尔曼取向系数大于0.1小于1。
地址 日本东京