发明名称 |
用于电路板测试的测试夹具及方法 |
摘要 |
本发明涉及用于电路板测试的测试夹具及方法。印刷电路板18(PCB)测试夹具包括:用于在测试过程中监测PCB 18的挠曲(或扭曲)的挠曲传感器(12);PCB(18)位于不规则的测试探针(24)阵列的上方;测试探针(24)与PCB(18)上的电测试点对准;然后,通过不规则的推杆(16)阵列来将PCB(18)向下压在测试探针(24)上;推杆(16)的位置通常由PCB制造商指定以避开印刷电路板元件,并且测试探针(24)的位置通常也由该PCB制造商指定以获得期望的信号。 |
申请公布号 |
CN101632027B |
申请公布日期 |
2011.12.07 |
申请号 |
CN200880006049.0 |
申请日期 |
2008.02.15 |
申请人 |
品一(亚洲)有限公司 |
发明人 |
马克·R·巴塞洛缪;理查德·伦纳德;托马斯·沃勒特 |
分类号 |
G01R31/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
任默闻 |
主权项 |
一种印刷电路板PCB测试夹具,其特征在于,所述印刷电路板测试夹具包括:支撑件,所述支撑件将要进行PCB测试的PCB定位在PCB的测试位置上;至少一个电测试探针,所述电测试探针相对于所述PCB的测试位置而定位,以在所述PCB测试过程中与由所述支撑件所定位的所述PCB上的电路电接触;至少一个推杆,所述至少一个推杆包括由推板所保持的推杆阵列,所述推杆相对于所述PCB的测试位置而定位,以在所述PCB测试过程中推动所述PCB与所述测试探针相抵;以及至少一个挠曲传感器,所述至少一个挠曲传感器包括由挠曲传感器板所保持的挠曲传感器阵列,所述传感器附接在挠曲传感器板上,并且相对于所述PCB的测试位置而降低,在所述PCB测试过程中,所述挠曲传感器板与所述推板的挠曲相分离,以在所述PCB测试过程中准确测量所述PCB的挠曲量。 |
地址 |
中国香港新界大埔汀角路53号太平工业中心第三座一楼 |