发明名称 | 基于一维光子晶体的光纤温度探头 | ||
摘要 | 本实用新型涉及一种基于一维光子晶体的光纤温度探头,其特点是在光纤温度探头的一维光子晶体的出射端面及外层再镀一层低折射率材料二氧化硅薄膜。本实用新型的优点和积极效果是:1)对具有缺陷层的一维光子晶体起保护作用,将其与被测环境隔离开来,防止其遭受污染或氧化,保证折射率变换的准确性,提高了测量的稳定性;2)与具有缺陷层的一维光子晶体的光变化曲线叠加后可以增大变化率,使得变化曲线斜率更大,更趋于线性化,从而提高测温精度;3)有效提高了基于一维光子晶体光纤温度探头测量的稳定性和抗干扰性。 | ||
申请公布号 | CN202057433U | 申请公布日期 | 2011.11.30 |
申请号 | CN201120118963.3 | 申请日期 | 2011.04.21 |
申请人 | 上海理工大学 | 发明人 | 胡佳惠;张礼朝;赵曼彤 |
分类号 | G01K11/32(2006.01)I | 主分类号 | G01K11/32(2006.01)I |
代理机构 | 上海东创专利代理事务所(普通合伙) 31245 | 代理人 | 宁芝华 |
主权项 | 基于一维光子晶体的光纤温度探头,其特征在于:在光纤温度探头的一维光子晶体的出射端面及外层再镀一层低折射率材料二氧化硅薄膜。 | ||
地址 | 200093 上海市杨浦区军工路516号 |