发明名称 基于单色连续激光测量固体中稀土离子辐射性质的方法
摘要 基于单色连续激光测量固体中稀土离子辐射性质的方法,涉及一种测量固体中稀土离子辐射性质的方法,它解决了现有的测量稀土离子的辐射性质的方法复杂、以及由于激发稀土离子的效率低导致测量精度低的问题。其方法:激光器发出的连续激光入射先后经一号偏振棱镜、电光调制器、二号偏振棱镜、一号透镜后会聚至待测稀土样品,激发待测稀土样品产生荧光,荧光经二号透镜会聚至光谱仪,获得分光光束;采用光电探测器探测分光光束,获得探测结果,建立探测结果的衰减曲线;对所述探测结果的衰减曲线进行拟合,获得稀土离子辐射寿命。本发明适用于固体中稀土离子辐射性质的测量。
申请公布号 CN102262080A 申请公布日期 2011.11.30
申请号 CN201110102562.3 申请日期 2011.04.22
申请人 哈尔滨工业大学 发明人 秦峰;程建敏;郑仰东;张治国
分类号 G01N21/64(2006.01)I 主分类号 G01N21/64(2006.01)I
代理机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人 张宏威
主权项 基于单色连续激光测量固体中稀土离子辐射性质的方法,它是基于下述硬件系统实现的,所述硬件系统包括一号偏振棱镜(1)、电光调制器(2)、二号偏振棱镜(3)、一号透镜(4)、二号透镜(6)、光谱仪(7)、探测器(8)、示波器(9)、信号发生器(12)、激光器(14)和高压电源模块(15);其特征是:基于单色连续激光测量固体中稀土离子辐射性质的方法是:激光器(14)发出的连续激光入射至一号偏振棱镜(1),经一号偏振棱镜(1)提高偏振度后入射至电光调制器(2)的光输入端,经过高压电源驱动的电光调制器(2)对偏振方向进行调制后,入射至二号偏振棱镜(3),经二号偏振棱镜(3)偏振消光后入射至一号透镜(4),经一号透镜(4)会聚至待测稀土样品(5),并激发待测稀土样品(5)产生荧光,所述荧光入射至二号透镜(6),经二号透镜(6)会聚至光谱仪(7)的光接收端,经光谱仪(7)分光获得荧光信号;信号发生器(12)产生控制信号并输入至高压电源模块(15),高压电源模块(15)根据所述控制信号产生高压电源,用于驱动电光调制器(2),信号发生器(12)同时作为示波器(9)获取波形的触发信号源;采用光电探测器(8)探测经光谱仪(7)分光后的荧光信号,并将探测信号输入示波器(9)建立探测结果的衰减曲线;对所述探测结果的衰减曲线进行拟合,获得稀土离子辐射寿命,并将所述稀土离子辐射寿命作为稀土离子辐射性质结果。
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
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