发明名称 |
一种太赫兹波成像装置 |
摘要 |
本发明属于太赫兹波成像技术领域,提供了一种太赫兹波成像装置,包括放置待检测物品的样品台;太赫兹波辐射源;将太赫兹光聚焦到焦点的透镜;将太赫兹光转换成平行太赫兹光的第一离轴抛物面镜;对平行太赫兹光进行反射的反射镜;将反射后的平行太赫兹光聚焦到待检测物品的第二离轴抛物面镜;对太赫兹光进行斩波调制处理的斩波器;感应太赫兹光的各探测点的能量变化,并产生相应的各探测点的电信号的探测器;将各探测点的电信号进行放大处理以及模/数转换处理,得到多个结果值的信号处理单元;利用扫描成像软件对待检测物品进行成像并显示的显示端,可以实现远距离检测,特别适用于应用太赫兹波成像装置对可疑物品进行安全检查的场合。 |
申请公布号 |
CN102243167A |
申请公布日期 |
2011.11.16 |
申请号 |
CN201110082411.6 |
申请日期 |
2011.04.01 |
申请人 |
深圳大学 |
发明人 |
阮双琛;权润爱;张敏;梁华伟;苏红 |
分类号 |
G01N21/17(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/17(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 |
代理人 |
何青瓦 |
主权项 |
一种太赫兹波成像装置,所述装置包括放置待检测物品的样品台、用于发出太赫兹光的太赫兹波辐射源,其特征在于,所述装置还包括:透镜,用于将经所述透镜一侧入射的所述太赫兹光聚焦到所述透镜另一侧的焦点;第一离轴抛物面镜,用于将所述透镜聚焦后的所述太赫兹光转换成平行太赫兹光;反射镜,用于对所述第一离轴抛物面镜转换后的平行太赫兹光进行反射;第二离轴抛物面镜,用于将所述反射镜反射后的平行太赫兹光聚焦到所述样品台上的所述待检测物品;置于所述太赫兹光路经所述待检测物品的出射光路上的斩波器,用于对所述待检测物品出射、携带有所述待检测物品信息的太赫兹光进行斩波调制处理;探测器,用于感应经所述斩波器斩波调制处理后的太赫兹光的各探测点的能量变化,并根据所述各探测点的能量变化产生相应的多个电信号;信号处理单元,用于将所述探测器产生的所述各探测点的电信号进行放大处理以及模/数转换处理,得到多个结果值;显示端,用于根据所述多个结果值,利用扫描成像软件对所述待检测物品进行成像并显示。 |
地址 |
518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号 |