发明名称 绝对距离测量设备
摘要 本发明涉及绝对距离测量设备,尤其涉及一种使用激光二极管波长依赖于外腔反馈控制的绝对距离测量设备。外腔激光器具有一个在目标表面和位于离该目标表面最远处的激光二极管晶面之间所形成的外腔。将一色散元件设置在外腔中并且聚焦来自激光二极管的光,使得某一波长可聚焦在目标表面上的焦点光斑处。从目标表面上的焦点光斑处所反射的光是往回耦合进入激光波导内的主要波长,该激光波导可提供一确定激光二极管谐振波长的反馈信号。激光二极管因此输出定义明确、与色散元件和目标表面之间的距离相对应的光波长。
申请公布号 CN1734287B 申请公布日期 2011.11.16
申请号 CN200510084516.X 申请日期 2005.07.15
申请人 株式会社三丰 发明人 D·W·赛斯克
分类号 G01S17/08(2006.01)I 主分类号 G01S17/08(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 钱慰民
主权项 一种距离测量装置,其特征在于,它包括:一聚焦元件,将光线聚焦到焦平面上,从所述聚焦元件到所述焦平面的各个距离取决于所述光线的各个波长,使得当目标表面位于所述的各个距离处时各个波长的光从所述目标表面上的焦点光斑处反射;和一增益介质,所述增益介质具有与目标表面最近的腔内晶面以及与目标表面最远的后方晶面,所述增益介质被设置成在所述后方晶面和所述目标表面之间形成谐振腔,并且还用于放大从所述目标表面上的焦点光斑处反射的各个波长的光;以及一波长检测器件,设置用于检测由所述增益介质放大的各个波长的光,并且提供与所述各个波长相对应的信号,其中所述各个波长与所述各个距离相对应,使得所述信号可表征所述各个距离。
地址 日本神奈川县