发明名称 测试装置、驱动器比较器晶片、响应测量装置、校正方法以及校正装置
摘要
申请公布号 TWI352206 申请公布日期 2011.11.11
申请号 TW096139693 申请日期 2007.10.23
申请人 愛德萬測試股份有限公司 日本 发明人 松原康夫
分类号 G01R31/28;G01R35/02 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 一种测试装置,对被测试元件进行测试,包括:信号生成部,生成应输入至上述被测试元件的测试信号;驱动器,将上述测试信号输出至上述被测试元件的输入输出接脚;比较器,连接于上述驱动器的输出端及上述被测试元件的上述输入输出接脚,以检测所赋予的信号;判定部,根据上述比较器检测出的上述被测试元件的输出信号,来判定上述被测试元件的良否;以及响应测量装置,检测上述比较器中的对信号的上升边缘的响应时间与对下降边缘的响应时间的差;上述响应测量装置包括:驱动器控制部,于上述驱动器的输出端及上述比较器的输入端经由具有规定的传播延迟的传送路径而终止于规定电位的状态下,使上述驱动器输出具有上升边缘以及下降边缘的输出波形;以及差分计算部,根据上述比较器分别检测出上述输出波形的上升边缘、上述输出波形被终端反射后形成的反射波形的下降边缘、上述输出波形的下降边缘、以及上述输出波形被终端反射后形成的反射波形的上升边缘的时刻,来计算出上述响应时间的差。
地址 日本