发明名称 |
相关双取样电路和取样保持电路 |
摘要 |
本发明提供一种相关双取样电路和取样保持电路。该相关双取样电路具有等分为多个的取样电容,通过在多个取样点对输入信号进行取样,并接通平均化开关来求取由取样得到的多个取样值的平均值。由此,降低重叠于输入信号的高频噪声,输出由取样得到的多个取样值的平均值的差。 |
申请公布号 |
CN101305602B |
申请公布日期 |
2011.11.09 |
申请号 |
CN200680041783.1 |
申请日期 |
2006.10.27 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
大齿真 |
分类号 |
H04N5/378(2011.01)I;H04N5/357(2011.01)I |
主分类号 |
H04N5/378(2011.01)I |
代理机构 |
北京市金杜律师事务所 11256 |
代理人 |
王茂华 |
主权项 |
一种相关双取样电路,其具有第一输入端子及第二输入端子;第一输出端子及第二输出端子;多个反馈电容;多个取样电容;以及运算放大器,其特征在于,包括:第一取样电容,为在多个取样点上对输入到上述第一输入端子的信号进行取样而被等分为多个并分别并联连接而构成;第二取样电容,为在多个取样点上对输入到上述第二输入端子的信号进行取样而被等分为多个并分别并联连接而构成;分别与上述第一取样电容的上述被等分后的各电容串联连接的多个取样开关;分别与上述第二取样电容的上述被等分后的各电容串联连接的多个取样开关;第一平均化开关,用于对用上述第一取样电容的上述被等分后的各电容分别取样而得到的多个取样值进行平均化来计算第一平均值;以及第二平均化开关,用于对用上述第二取样电容的上述被等分后的各电容分别取样而得到的多个取样值进行平均化来计算第二平均值,用由上述第一取样电容及上述第二取样电容与上述第一反馈电容及上述第二反馈电容之比所确定的值来放大上述第一平均值和上述第二平均值的差。 |
地址 |
日本大阪府 |