发明名称 |
Verringerung der Kontamination in einem Prozessablauf zur Herstellung einer Kanalhalbleiterlegierung in einem Halbleiterbauelement |
摘要 |
In komplexen Anwendungen zur Herstellung von Metallgateelektrodenstrukturen mit großemεin einer frühen Fertigungsphase wird eine schwellwerteinstellende Halbleiterlegierung auf der Grundlage eines selektiven epitaktischen Aufwachsprozesses abgeschieden, ohne dass die Rückseite der Substrate beeinflusst wird. Folglich können negative Auswirkungen, etwa die Kontamination von Substraten und Prozessanlagen, eine geringere Oberflächenqualität der Rückseite und dergleichen, unterdrückt oder reduziert werden, indem ein Maskenmaterial vorgesehen und dieses Material zumindest während des selektiven epitaktischen Aufwachsprozesses beibehalten wird.
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申请公布号 |
DE102010001402(B4) |
申请公布日期 |
2011.11.03 |
申请号 |
DE20101001402 |
申请日期 |
2010.01.29 |
申请人 |
GLOBALFOUNDRIES DRESDEN MODULE ONE LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG;GLOBALFOUNDRIES INC. |
发明人 |
KRONHOLZ, STEPHAN;REIMER, BERTHOLD;CARTER, RICHARD;KOCH, FERNANDO;SCHAMMLER, GISELA |
分类号 |
H01L21/8238 |
主分类号 |
H01L21/8238 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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