发明名称 产生装置、产生方法、可执行该方法于电脑之程式及记录该程式之记录媒体
摘要
申请公布号 TWI351527 申请公布日期 2011.11.01
申请号 TW096134766 申请日期 2007.09.19
申请人 獨立行政法人科學技術振興機構 日本;國立大學法人九州工業大學 日本;系統JD股份有限公司 日本 发明人 温晓青;梶原诚司;宫濑紘平;皆本义弘;伊达博
分类号 G01R31/3183;G01R31/28;G11C29/10 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人 陈志旭 台中市北屯区文心路四段698号21楼之2
主权项 一种产生装置,系对被全扫瞄设计的循序电路之逻辑电路分配逻辑值至包含于测试立方之复数个未定值位元的每一个,产生测试向量,包含:选择单元,由该复数个未定值位元之中选择响应使X得分(对该逻辑电路之讯号值的变化的影响范围)最大化之选择基准,成为逻辑值的分配对象之一个分配对象未定值位元;撷取转变数数值化单元,藉由机率加权的以下的公式计算包含未定值位元之测试立方(v)在该逻辑电路内的所有的逻辑元件的输出所产生之撷取转变数(PWT(v)),并数值化;以及逻辑值分配单元,对藉由分配逻辑值0至该被选择的分配对象未定值位元(b)而得的第一测试立方,与对藉由分配逻辑值1至该被选择的分配对象未定值位元而得的第二测试立方,适用该撷取转变数数值化单元,比较由第一测试立方产生的撷取转变数(PWT(v:b=0))与由第二测试立方产生的撷取转变数(PWT(v:b=1)),分配对应较少者之逻辑值至该被选择的分配对象未定值位元,其中到逻辑值分配至该复数个未定值位元的全部为止,根据该撷取转变数数值化单元的演算结果,逻辑值被分配至分配对象未定值位元,其中,n为电路中的全节点数,wi为用以计算撷取转变数的系数且与节点i有关的系数,pi为在节点i的输出线产生的0至1或1至0的转变机率。
地址 日本
您可能感兴趣的专利