发明名称 |
PROCEDE ET DISPOSITIF DE MESURE DE TEMPERATURES, NOTAMMENT DE TEMPERATURES CRYOGENIQUES, A L'AIDE DE NANOCRISTAUX SEMICONDUCTEURS |
摘要 |
<p>Procédé et dispositif de mesure de températures, notamment de températures cryogéniques, à l'aide de nanocristaux semiconducteurs. Pour mesurer la température d'un objet (20), on utilise un capteur (24) comportant des nanocristaux semiconducteurs, on met les nanocristaux en contact thermique avec l'objet et l'on irradie les nanocristaux par une lumière (26) telle qu'ils émettent un rayonnement de fluorescence (28). Selon l'invention, on détermine le temps de décroissance du rayonnement et l'on détermine la température à partir de ce temps.</p> |
申请公布号 |
FR2959308(A1) |
申请公布日期 |
2011.10.28 |
申请号 |
FR20100053041 |
申请日期 |
2010.04.21 |
申请人 |
COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIESALTERNATIVES |
发明人 |
REISS PETER;COMMUNAL DANIEL |
分类号 |
G01K11/20 |
主分类号 |
G01K11/20 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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