发明名称 Vorrichtung und Verfahren zur quasi-verteilten Messung einer Meßgröße
摘要 Ein System zur Messung mindestens einer Meßgröße mittels einer Sensorfaser umfaßt eine Sensorfaser (110), die an n, n ≥ 1, vorbestimmten Positionen (zr) jeweils einen Sensor (R1, R2) aufweist, der eingerichtet ist, die mindestens eine Meßgröße mittels einer Änderung der am Sensor reflekierten Lichtleistung zu detektieren, eine mit der Sensorfaser (110) verbundene Einrichtung (120) zur Durchführung einer optischen Frequenzbereichsreflektometrie-Messung, und eine mit der Einrichtung (120) verbundene Auswerteeinheit (130) zur Ermittlung eines Meßwertes der mindestens einen Meßgröße, wobei das System eingerichtet ist, ein Verfahren durchzuführen mit den Schritten Bereitstellen mindestens einer Sensorfaser, die an n, n ≥ 1, vorbestimmten Positionen (zr) jeweils einen Sensor aufweist, der die mindestens eine Meßgröße mittels einer Änderung der am Sensor reflekierten Lichtleistung detektiert; Bereitstellen einer Referenzübertragungsfunktion (H0, Hr) der Sensorfaser, wobei die Referenzübertragungsfunktion (H0, Hr) in einem vorbestimmten Ausgangszustand der Sensorfaser ermittelt wurde; Durchführen von m ≥ n optischen Frequenzbereichsreflektometrie-Messungen bei m voneinander verschiedenen Meßfrequenzen (fk) zur Ermittlung von m Meßübertragungsfunktionen (Mk); Ermitteln einer Änderung der reflektierten Lichtleistung an mindestens einer Sensorposition anhand der Referenzübertragungsfunktion (H0, Hr) und der Meßübertragungsfunktionen (Mk); und Ermitteln mindestens eines Meßwertes der Meßgröße an mindestens einer Sensorposition anhand der ermittelten Änderung der reflektierten Lichtleistung an der Sensorposition
申请公布号 DE102010016640(A1) 申请公布日期 2011.10.27
申请号 DE20101016640 申请日期 2010.04.26
申请人 BUNDESANSTALT FUER MATERIALFORSCHUNG UND -PRUEFUNG (BAM) 发明人 LIEHR, SASCHA
分类号 G01B11/16;G01D5/353 主分类号 G01B11/16
代理机构 代理人
主权项
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