发明名称 密集颗粒体摩擦测试仪
摘要 本发明公开了一种密集颗粒体摩擦测试仪,其特征是导轨平移台和一颗粒物容置槽共同设置在底座上,导轨平移台在底座上可直线往复移动;基座支承在导轨平移台上,并可随导轨平移台移动;水平测量臂以其前端与竖直测量臂固定连接;扭矩传感器固定设置在基座上,扭矩传感器的顶端与水平测量臂的中部以铰接结构进行连接;拉压力传感器呈竖直设置在水平测量臂的末端,拉压力传感器的底端抵与基座的表面;试板连接在竖直测量臂的底端,置于颗粒物容置槽内、可以与槽内颗粒体相接触。本发明用于颗粒物质与表面的摩擦特性测量。
申请公布号 CN102226751A 申请公布日期 2011.10.26
申请号 CN201110084050.9 申请日期 2011.04.02
申请人 合肥工业大学 发明人 王伟;赵明;张伯平;刘焜
分类号 G01N19/02(2006.01)I 主分类号 G01N19/02(2006.01)I
代理机构 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人 何梅生
主权项 一种密集颗粒体摩擦测试仪,其特征是所述测试仪的结构设置包括有:一导轨平移台(2)和一颗粒物容置槽(9)共同设置在底座(1)上,导轨平移台(2)在所述底座(1)上可直线往复移动;一基座(3)固定在导轨平移台(2)上,并可随导轨平移台(2)移动;一水平测量臂(5)以其前端与竖直测量臂(7)通过一直角连接件(20)固定连接;一用于切向阻力测量的扭矩传感器(6)固定设置在基座(3)上,所述扭矩传感器(6)的顶端与水平测量臂(5)的中部以铰接结构进行连接,形成扭矩传感器(6)对所述水平测量臂(5)的支撑;一用于测量法向承载力的拉压力传感器(4)呈竖直设置在所述水平测量臂(5)的末端,所述拉压力传感器(4)的底端抵与所述基座(3)的表面;一试板(8)连接在竖直测量臂(7)的底端,所述试板(8)置于颗粒物容置槽(9)内、试板(8)可以与槽内颗粒体(10)相接触。
地址 230009 安徽省合肥市屯溪路193号