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发明名称 APPARATUS FOR INSPECTING DEFECTS
摘要
申请公布号 KR20110111144(A) 申请公布日期 2011.10.10
申请号 KR20100030556 申请日期 2010.04.02
申请人 3B SYSTEM INC. 发明人 LEE, JAE SUS;CHOI, BAEK YOUNG
分类号 G01N21/954;G01B11/16;G01B11/30 主分类号 G01N21/954
代理机构 代理人
主权项
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