测试电路和方法

摘要

本发明提供了一种测试接口电路，与不同类型的核心电路一起操作。根据各个实施例，所述测试接口电路包括：测试输入寄存器(TIR)，被配置为选择操作模式；以及多个测试点寄存器(TPR)。每个TPR被配置为，响应于所接收的测试输入信号和TIR选择的操作模式，控制从输入端口传送至混合信号核心电路的信号。在静态模式中，每个TPR向混合信号核心电路的数字输入和输出提供串行访问。在旁路模式中，每个TPR响应于该TPR在至少两个混合信号核心的集成期间被链接至其他TPR，旁路掉TPR限幅器以保持测试时间。

主权项

一种测试接口电路，与不同类型的核心电路一起操作，所述测试接口电路包括：输入端口，被配置为接收测试输入信号；测试输入寄存器TIR，被配置为选择操作模式；以及多个测试点寄存器TPR，每个TPR被配置为，响应于所接收的测试输入信号和TIR选择的操作模式，通过以下操作来控制从输入端口传送至混合信号核心电路的信号：在静态模式中，向混合信号核心电路的数字输入和输出提供串行访问，以及在旁路模式中，响应于所述TPR在至少两个混合信号核心的集成期间被链接至其他TPR，旁路掉TPR限幅器以保持测试时间。