发明名称 一种测量大数值孔径显微物镜调制传递函数的装置及方法
摘要 本发明涉及一种测量光学系统调制传递函数的技术,特别涉及一种测量大数值孔径显微物镜调制传递函数的装置及方法。该装置所述的像分析仪(11)包括扫描刀口(8)、扫描控制器(9)、积分球(10)、半导体光电探测器(12)和锁相放大器(13);扫描刀口(8)安装在积分球(10)的开口前面;扫描控制器(9)接收由控制及数据处理系统(14)发出的控制信号,驱动刀口运动;半导体光电探测器(12)安装在积分球(10)的内壁上,其输出的电流信号经锁相放大器(13)处理后输入到控制及数据处理系统(14)。该装置结构简单,功能扩展性好,工作波段宽,且使用方便,还可用于光学系统调制传递函数的测量。
申请公布号 CN101893509B 申请公布日期 2011.10.05
申请号 CN201010225748.3 申请日期 2010.07.14
申请人 苏州大学 发明人 陈新华;陈宇恒;周建康;相春昌;范纪铭;季轶群;沈为民
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人 陶海锋
主权项 一种测量大数值孔径显微物镜调制传递函数的装置,它包括:准直物镜(1)、目标发生器(2)、像分析仪(11)和控制及数据处理系统(14),其特征在于:所述的像分析仪(11)包括扫描刀口(8)、扫描控制器(9)、积分球(10)、半导体光电探测器(12)和锁相放大器(13);扫描刀口(8)安装在积分球(10)的开口前面,它们之间的距离≤1mm,扫描刀口(8)的刀口厚度≤1um;扫描控制器(9)接收由控制及数据处理系统(14)发出的控制信号,驱动扫描刀口(8)运动;半导体光电探测器(12)安装在积分球(10)的内壁上,其输出电流信号经锁相放大器(13)输入到控制及数据处理系统(14)处理后输出测量结果。
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