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发明名称 X-RAY METERING APPARATUS, AND X-RAY METERING METHOD
摘要
申请公布号 EP2164308(A4) 申请公布日期 2011.10.05
申请号 EP20080790769 申请日期 2008.07.01
申请人 IHI CORPORATION;THE UNIVERSITY OF TOKYO 发明人 NOSE, HIROYUKI;ISHIDA, DAISUKE;KANEKO, NAMIO;SAKAI, YASUO;UESAKA, MITSURU;SAKAMOTO, FUMITO;DOBASHI, KATSUHIRO
分类号 H05G2/00 主分类号 H05G2/00
代理机构 代理人
主权项
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