发明名称 ADDRESS CONTROL CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS
摘要 <p>본 발명은 테스트용 어드레스 정보가 코딩된 코딩 정보를 테스트 신호에 따라 입력 받는 버퍼 블록; 상기 코딩 정보를 디코딩하여 테스트 리프레시 어드레스를 생성하는 디코더; 및 테스트 신호에 따라 상기 테스트 리프레시 어드레스를 래치하는 래치 블록을 구비하는 반도체 메모리 장치의 어드레스 제어회로를 제공한다.</p>
申请公布号 KR101069672(B1) 申请公布日期 2011.10.04
申请号 KR20090034181 申请日期 2009.04.20
申请人 发明人
分类号 G11C11/401;G11C11/4063;G11C11/408 主分类号 G11C11/401
代理机构 代理人
主权项
地址