发明名称 |
测试探针 |
摘要 |
本发明涉及一种用于在探针插入方向(I)与连接器(30)配合的测试探针(1),包括:壳体(2),外接触部分(8),外接触部分(8)通过壳体(2)支撑并远离壳体(2)延伸,外接触部分(8)通过可弹性变形的外偏压装置(21)支撑并适于大致垂直于探针插入方向(I)地偏斜,以及至少一个接触保证装置(19),接触保证装置(19)导电连接外接触部分(8)到壳体(2)。为了减少部件数量,接触保证装置(19)具有至少一个接触部分(19c),接触部分(19c)通过被弹性偏斜而导电地压靠壳体(2)。 |
申请公布号 |
CN102197310A |
申请公布日期 |
2011.09.21 |
申请号 |
CN200980142348.1 |
申请日期 |
2009.10.22 |
申请人 |
泰科电子服务有限责任公司 |
发明人 |
迪特尔·伯泽;西格弗里多·休奇;吉赛普·兰弗兰科尼;马蒂亚·谢吉亚 |
分类号 |
G01R1/067(2006.01)I;H01R13/631(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/067(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
葛飞 |
主权项 |
一种用于在探针插入方向(I)与连接器(30)配合的测试探针(1),包括:壳体(2),外接触部分(8),所述外接触部分(8)通过所述壳体(2)支撑并远离所述壳体(2)延伸,所述外接触部分(8)通过可弹性变形的外偏压装置(21)支撑并适于大致垂直于所述探针插入方向(I)地偏斜,至少一个接触保证装置(19),所述接触保证装置(19)导电连接所述外接触部分(8)到所述壳体(2),其特征在于,所述接触保证装置(19)具有至少一个接触部分(19c),所述接触部分(19c)通过被弹性偏斜而导电地压靠所述壳体(2)。 |
地址 |
瑞士沙夫豪森 |