发明名称 |
一种扣除光谱背景的方法和装置 |
摘要 |
本发明涉及一种扣除光谱背景的方法,待测光通过入射狭缝后入射到光栅,被光栅分光后的待测光穿过出射狭缝,最后被探测器接收,从而得到待测光在波长域的强度分布;在上述工作过程中,保持光栅不动,改变待测光在光栅上的入射角α,使得探测器接收到待测波长及其侧部的光强;待测波长处的光强扣除侧部的光强,从而得出待测波长处的实际光强。本发明还提供了一种用于实施上述方法的装置。本发明有效地降低了背景光对测量结果的干扰,提高光谱分析的精度。 |
申请公布号 |
CN102175325A |
申请公布日期 |
2011.09.07 |
申请号 |
CN201010597325.4 |
申请日期 |
2010.12.10 |
申请人 |
聚光科技(杭州)股份有限公司 |
发明人 |
吕全超;寿淼钧;孙敬文 |
分类号 |
G01J3/443(2006.01)I;G01J3/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01J3/443(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种扣除光谱背景的方法,待测光通过入射狭缝后入射到光栅,被光栅分光后的待测光穿过出射狭缝,最后被探测器接收,从而得到待测光在波长域的强度分布;其特征在于:在上述工作过程中,保持光栅不动,改变待测光在光栅上的入射角α,使得探测器接收到待测波长及其侧部的光强;待测波长处的光强扣除侧部的光强,从而得出待测波长处的实际光强。 |
地址 |
310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号 |