| 摘要 |
L'invention concerne un procédé de test d'un circuit intégré comprenant une étape de collecte d'un ensemble de points (Wk,i,j) d'une grandeur physique pendant que le circuit intégré exécute une multiplication. Le procédé comprend des étapes consistant à diviser l'ensemble de points en une pluralité de sous-ensembles de points (Ci,j), calculer une estimation (HWi,j) de la valeur de la grandeur physique pour chaque sous-ensemble (Ci,j, et appliquer aux sous-ensembles de points latéraux (Ci,j) une étape de traitement statistique transversal horizontal en utilisant les estimations de la valeur de la grandeur physique, pour vérifier une hypothèse sur des variables manipulées par le circuit intégré.
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