| 发明名称 | 电子设备设计装置、电子设备设计程序和方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及电子设备设计装置、电子设备设计程序和方法。所述电子设备设计装置包括：选择单元，所述选择单元从元件数据库中选择符合特性条件的第一元件，所述元件数据库包括各元件的特性和推荐级别，所述推荐级别可变；第一判定单元，所述第一判定单元从所述元件数据库获取所述第一元件的推荐级别，并对所获取的推荐级别进行判定；创建单元，所述创建单元创建包括所述第一元件的电子设备的设计数据；以及第二判定单元，所述第二判定单元在创建之后从所述元件数据库获取所述第一元件的推荐级别，并对所获取的创建之后的推荐级别进行判定。 | ||
| 申请公布号 | CN102163245A | 申请公布日期 | 2011.08.24 |
| 申请号 | CN201110041535.X | 申请日期 | 2011.02.21 |
| 申请人 | 富士通株式会社 | 发明人 | 江崎恒平;森泉清和;渡边高行;前田裕治 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01)I;G06F17/30(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 李辉;孙海龙 |
| 主权项 | 一种电子设备设计装置，所述装置包括：选择单元，所述选择单元从元件数据库中选择符合特性条件的第一元件，所述元件数据库包括各元件的特性和推荐级别，所述推荐级别可变；第一判定单元，所述第一判定单元从所述元件数据库获取所述第一元件的推荐级别，并对所获取的推荐级别进行判定；创建单元，所述创建单元创建包括所述第一元件的电子设备的设计数据；以及第二判定单元，所述第二判定单元在创建之后从所述元件数据库获取所述第一元件的推荐级别，并对所获取的创建之后的推荐级别进行判定。 | ||
| 地址 | 日本神奈川县川崎市 | ||