发明名称 |
薄膜测厚仪 |
摘要 |
本实用新型涉及一种薄膜测厚仪,包括底座、载物台、固定杆、千分表,载物台固定在底座上表面,固定杆竖直固定在底座上,固定杆通过连接杆固定千分表,千分表底部伸出测量杆,测量杆底端头对准载物台中心,其特征在于:在千分表的外壳上端制有抬起测量杆的扳手。本实用新型提供一种新的薄膜测厚仪,在测厚时只需要将按压表头上的扳手,抬起测量杆,将薄膜放在测量杆下面,静置等千分表的读数稳定后即得到薄膜的厚度参数,测量时间短、效率高。 |
申请公布号 |
CN201945276U |
申请公布日期 |
2011.08.24 |
申请号 |
CN201020659845.9 |
申请日期 |
2010.12.15 |
申请人 |
中国包装科研测试中心 |
发明人 |
韩雪山;袁文广;李志恒;崔洁 |
分类号 |
G01B5/06(2006.01)I |
主分类号 |
G01B5/06(2006.01)I |
代理机构 |
天津盛理知识产权代理有限公司 12209 |
代理人 |
王来佳 |
主权项 |
一种薄膜测厚仪,包括底座、载物台、固定杆、千分表,载物台固定在底座上表面,固定杆竖直固定在底座上,固定杆通过连接杆固定千分表,千分表底部伸出测量杆,其特征在于:在千分表的外壳制有抬起测量杆的扳手。 |
地址 |
300457 天津市塘沽区经济技术开发区黄海路海川街2号 |