| 主权项 |
一种测量电路，将直流电压施加至被测试元件，并测量流动于上述被测试元件中的直流电流，上述测量电路包括：主放大部，根据输入电压而产生上述直流电压，并施加至上述被测试元件；串联电阻，串联设置于上述主放大部的输出端与上述被测试元件的输入端之间；以及箝位电路，限制上述主放大部输出的上述直流电流的电流值，上述箝位电路包括：第1限制电压输出部，其接收上述主放大部输出的上述直流电压，并输出与上述直流电压具有和上述直流电流之限制值相对应的电压差的第1限制电压；以及第1箝位部，根据上述第1限制电压与上述串联电阻之两端的电压降，来限制上述主放大部输出的上述直流电流。如申请专利范围第1项所述之测量电路，其中上述第1箝位部包括：第1比较部，输出基于上述电压降与对应上述第1限制电压之电压的比较结果的第1比较结果电压；以及第1二极体，根据上述第1比较结果电压而限制上述输入电压，藉此来限制上述直流电流。如申请专利范围第2项所述之测量电路，其中上述第1限制电压输出部，输出与上述直流电流之上限值相对应的上述第1限制电压，上述第1二极体，其阴极连接于上述第1比较部的输出端，其阳极连接于上述主放大部的输入端，上述第1比较部，在上述电压降大于对应上述第1限制电压的电压时，输出使上述第1二极体为接通状态的上述第1比较结果电压，在上述电压降小于对应上述第1限制电压的电压时，输出使上述第1二极体为断开状态的上述第1比较结果电压。如申请专利范围第3项所述之测量电路，其中上述第1比较部是差动电路，该差动电路具有第1输入端子及第2输入端子，且输出与输入至上述第1输入端子及上述第2输入端子的电压差相对应的上述第1比较结果电压，上述第1箝位部更包括：第1电阻，其连接上述串联电阻的上述主放大部侧的一端与上述第1比较部的上述第1输入端子；第2电阻，其连接上述串联电阻的上述被测试元件侧的一端与上述第1比较部的上述第2输入端子，且电阻值与上述第1电阻大致相等；以及第3电阻，其连接上述第1限制电压输出部的输出端与上述第2电阻及上述第2输入端子的连接点，且电阻值大于上述第2电阻。如申请专利范围第4项所述之测量电路，其中上述第1箝位部更包括第4电阻，其设置于上述第1电阻的上述第1比较部侧的一端与上述串联电阻的上述主放大部侧的一端之间，且该第4电阻的电阻值与上述第3电阻大致相等。如申请专利范围第4项所述之测量电路，其中更包括：第2限制电压输出部，其接收上述主放大部输出的上述直流电压，并输出与上述直流电压具有和上述直流电流之下限值相对应的电压差的第2限制电压；以及第2箝位部，根据上述第2限制电压与上述串联电阻之两端的电压降，来限制上述主放大部输出的上述直流电流的下限，上述第2箝位部包括：第2比较部，其输出基于上述电压降与对应上述第2限制电压之电压的比较结果的第2比较结果电压；以及第2二极体，其阳极连接于上述第2比较部的输出端，其阴极连接于上述主放大部的输入端，并根据上述第2比较结果电压而限制上述输入电压的下限，藉此来限制上述直流电流的下限，上述第2比较部，在上述电压降小于对应上述第2限制电压的电压时，输出使上述第2二极体为接通状态的上述第2比较结果电压，在上述电压降大于对应上述第2限制电压的电压时，输出使上述第2二极体为断开状态的上述第2比较结果电压。一种测量电路，将直流电压施加至被测试元件，并测量流动于上述被测试元件中的直流电流，上述测量电路包括：主放大部，根据输入电压而产生上述直流电压，并施加至上述被测试元件；串联电阻，串联设置于上述主放大部的输出端与上述被测试元件的输入端之间；箝位电路，限制上述主放大部输出的上述直流电流的电流值；以及缓冲器，分路接收上述输入电压，并输入至上述箝位电路，上述箝位电路包括：第1限制电压输出部，其接收上述主放大部输出的上述直流电压，并输出与上述缓冲器输入的上述输入电压具有和上述直流电流之限制值相对应的电压差的第1限制电压；以及第1箝位部，根据上述第1限制电压与上述串联电阻之两端的电压降，来限制上述主放大部输出的上述直流电流。一种测试装置，测试被测试元件，上述测试装置包括：测量电路，将直流电压供给至上述被测试元件，并测量流动于上述被测试元件中的直流电流；以及判定部，根据上述测量电路测量出的上述直流电流，来判定上述被测试元件的良否，上述测量电路包括：主放大部，根据输入电压而产生上述直流电压，并施加至上述被测试元件；串联电阻，串联设置于上述主放大部的输出端与上述被测试元件的输入端之间；以及箝位电路，限制上述主放大部输出的上述直流电流的电流值，上述箝位电路包括：第1限制电压输出部，其接收上述主放大部输出的上述直流电压，并输出与上述直流电压具有和上述直流电流的限制值相对应的电压差的第1限制电压；以及第1箝位部，根据上述第1限制电压与上述串联电阻之两端的电压降，来限制上述主放大部输出的上述直流电流。一种测试装置，测试被测试元件，上述测试装置包括：测量电路，将直流电压供给至上述被测试元件，并测量流动于上述被测试元件中的直流电流；以及判定部，根据上述测量电路测量出的上述直流电流，来判定上述被测试元件的良否，上述测量电路包括：主放大部，根据输入电压而产生上述直流电压，并施加至上述被测试元件；串联电阻，串联设置于上述主放大部的输出端与上述被测试元件的输入端之间；箝位电路，限制上述主放大部输出的上述直流电流的电流值；以及缓冲器，分路接收上述输入电压，并输入至上述箝位电路，上述箝位电路包括：第1限制电压输出部，其接收上述主放大部输出的上述直流电压，并输出与上述缓冲器输入的上述输入电压具有和上述直流电流的限制值相对应的电压差的第1限制电压；以及第1箝位部，根据上述第1限制电压与上述串联电阻之两端的电压降，来限制上述主放大部输出的上述直流电流。 |
