基于系统辨识的阻抗测量方法

摘要

本发明公开了一种基于系统辨识的阻抗测量方法。该方法包括步骤：S1，利用阻抗测量仪器测得不同角频率下的阻抗值；S2，根据被测量对象及其与所述阻抗测量仪器探头的连接方式，建立含寄生参量的阻抗模型；S3，根据所测得的阻抗值和所建立的阻抗模型采用参数估计的方法进行系统辨识，得到所述被测试对象的实际阻抗值、电容、电感和各寄生参量的值。本发明的技术方案能够从被测试对象的阻抗测量值中分析出实际阻抗值，以消除寄生参量的影响；而且消除了由被测量对象与测量仪器探头接触的不确定性及各寄生参量的变化对最终测量结果的影响。

主权项

1.一种基于系统辨识的阻抗测量方法，包括以下步骤：S1，利用阻抗测量仪器测得不同角频率下的阻抗值；S2，根据被测量对象及其与所述阻抗测量仪器探头的连接方式，建立含寄生参量的阻抗模型；S3，根据所测得的阻抗值和所建立的阻抗模型采用参数估计方法进行系统辨识，得到所述被测试对象的实际阻抗、电容、电感和各寄生参量的值；所述含寄生参量的阻抗模型包括：若被测量对象为阻抗，则所建立的阻抗模型的总阻抗Z为：$Z=\frac{1}{\frac{1}{\mathrm{Rp}}+\frac{1}{\mathrm{Zx}}+\mathrm{jwCp}}+\mathrm{Rs}+\mathrm{jwLs}=\frac{1}{\frac{1}{\mathrm{Rp}}+\frac{1}{\mathrm{Zxr}+\mathrm{jZxi}}+\mathrm{jwCp}}+\mathrm{Rs}+\mathrm{jwLs}$其中，Zx是被测量对象的阻抗，Zxr和Zxi分别是Zx的实部和虚部，Rp是并联寄生电阻，Cp是并联寄生电容，Rs是串联寄生电阻，Ls是串联寄生电感；w为角频率；若被测量对象为电容，则所建立的阻抗模型的总阻抗Z为：$Z=\frac{1}{\frac{1}{\mathrm{Rp}}+\frac{1}{\frac{1}{\frac{1}{\mathrm{Rpx}}+\mathrm{jwCx}}+\mathrm{Rsx}}+\mathrm{jwCp}}+\mathrm{Rs}+\mathrm{jwLs}$其中，Cx、Rpx和Rsx分别是被测量对象的电容值、并联电阻值和串联电阻值；若被测对象为电感，则所建立的阻抗模型的总阻抗Z为：$Z=\frac{1}{\frac{1}{\mathrm{Rp}}+\frac{1}{\frac{1}{\frac{1}{\mathrm{Rpx}}+\frac{1}{\mathrm{jwLx}}}+\mathrm{Rsx}}+\mathrm{jwCp}}+\mathrm{Rs}+\mathrm{jwLs}$其中，Lx、Rpx和Rsx分别是被测量对象的电感值、并联电阻值和串联电阻值。