| 发明名称 | 一种智能卡数据存、取过程中的校验方法及智能卡 | ||
| 摘要 | 本发明实施例提供一种智能卡数据存、取过程中的校验方法及智能卡，涉及智能卡领域，能够防止非易失性存储器中存、取数据过程中，数据失真或无效的问题。该方法包括：对要存储到非易失性存储器中的第一数据进行校验计算，得到第一校验值；将所述第一数据和第一校验值存储到所述非易失性存储器中；从所述非易失性存储器中读取出所述第一数据和第一校验值，根据所述校验方法，以及所述第一数据、第一校验值确定该第一数据是否合法。本发明实施例用于智能卡的应用。 | ||
| 申请公布号 | CN102156828A | 申请公布日期 | 2011.08.17 |
| 申请号 | CN201110026933.4 | 申请日期 | 2011.01.25 |
| 申请人 | 北京握奇数据系统有限公司 | 发明人 | 虞涛;罗迎 |
| 分类号 | G06F21/00(2006.01)I | 主分类号 | G06F21/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人 | 申健 |
| 主权项 | 一种智能卡数据存、取过程中的校验方法，其特征在于，包括：对要存储到非易失性存储器中的第一数据进行校验计算，得到第一校验值；将所述第一数据和第一校验值存储到所述非易失性存储器中；从所述非易失性存储器中读取出所述第一数据和第一校验值，根据所述校验方法，以及所述第一数据、第一校验值确定该第一数据是否合法。 | ||
| 地址 | 100015 北京市朝阳区东直门外西八间房万红西街2号燕东商务花园 | ||