发明名称 影像感测晶片污点检测系统及其检测方法
摘要 一种影像感测晶片污点检测系统,其包括:初始化设置模块,用于初始化设置准污点标准值范围以及污点标准值;影像获取模块,所获取的影像中获取各像素点的亮度值;计算模块,用于求取每个像素点及每个像素点周边各像素点的亮度值的差值的平均值,并求取每个像素点以及每个像素点周边各像素点的亮度值的标准差值;比较模块,用于将平均值以及标准差值分别与准污点标准值范围以及污点标准值相比较,以及标注模块,用于标注落入准污点标准值范围的准污点以及大于污点标准值范围的污点。利用上述影像感测晶片污点检测系统,避免人工目检存在的主观因素以及其存在的漏检率,提高检测合格率。本发明还提供一种上述影像感测晶片污点检测系统的检测方法。
申请公布号 CN101329281B 申请公布日期 2011.08.10
申请号 CN200710200843.6 申请日期 2007.06.20
申请人 佛山普立华科技有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 发明人 彭磊;王江平
分类号 G01N21/958(2006.01)I 主分类号 G01N21/958(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种影像感测晶片污点检测系统,其特征在于,该系统包括:初始化设置模块,用于初始化设置准污点标准值范围以及污点标准值;影像获取模块,用于从待测影像感测晶片处获取影像,并从影像感测晶片所获取的影像中获取各像素点的亮度值;计算模块,用于计算所取得的像素阵列中各像素点的亮度值与该像素点周边的像素点的亮度值的差值,并求各像素点的亮度值与该像素点周边的像素点的亮度值的差值的平均值;所述计算模块还用于计算各像素点的亮度值与该像素点周边的像素点的亮度值的标准差值;比较模块,用于将该计算模块所求得的平均值与该初始化设置模块存储的准污点标准值范围进行比较;所述比较模块还用于将该计算模块所求得的标准差值与该初始化设置模块存储的污点标准值相比较;以及,标注模块,用于标注落入准污点标准值范围的准污点以及大于污点标准值范围的污点。
地址 518109 广东省佛山市张槎镇城西工业区长虹东路1号