发明名称 Bestimmen einer Lage eines Teilbereichs eines Untersuchungsobjekts und dessen Struktur in einer Magnetresonanzanlage
摘要 Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen einer Lage eines Teilbereichs (11) eines Untersuchungsobjekts (4) in einer Magnetresonanzanlage (1). Der Teilbereich (11) ist am Rand (10) eines Gesichtsfeldes (9, 10) der Magnetresonanzanlage (1) angeordnet. Bei dem Verfahren wird mindestens eine Schichtposition für ein MR Bild bestimmt, in der das B0 Feld am Rand (10) des MR Bilds einen vorgegebenen Homogenitätswert erfüllt. Für die bestimmte Schichtposition wird ein MR Bild aufgenommen, welches den Teilbereich (11) am Rand (10) des Gesichtsfelds (9, 10) beinhaltet, und durch die Lage des Teilbereichs (11) in dem MR Bild wird die Lage des Teilbereichs (11) des Untersuchungsobjekts (4) bestimmt.
申请公布号 DE102010006431(A1) 申请公布日期 2011.08.04
申请号 DE201010006431 申请日期 2010.02.01
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 BLUMHAGEN, JAN OLE;FENCHEL, MATTHIAS;LADEBECK, RALF
分类号 G01R33/56;G01R33/38;G01R33/483 主分类号 G01R33/56
代理机构 代理人
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