发明名称 测量材料非线性电极化率的方法
摘要 本发明提供了一种测量材料非线性电极化率系数的方法,包括以下步骤:a)使用具有导电针尖的扫描探针显微镜,在抬高模式下对待测样品表面进行扫描;b)测量驱动针尖振荡的激励交变信号和针尖实际振荡信号之间的相位角差值Δθ随针尖偏压Vt的变化;c)解释测量得到的Δθ与Vt以获取待测样品的电极化率系数;本发明通过利用CSPM,可以对材料在纳米范围内的非线性电极化率系数进行测量,对于研究材料的非线性具有非常重要的意义,这是一种新的测量材料非线性电极化率系数的手段,由于SPM的高分辨率,可以实现对非均匀样品的在针尖曲率半径尺寸面积的逐点测量,也可以实现纳米区域内的测量。
申请公布号 CN101515006B 申请公布日期 2011.07.27
申请号 CN200810100819.X 申请日期 2008.02.22
申请人 国家纳米科学中心 发明人 戚桂村;杨延莲;严昊;关丽;裘晓辉;王琛
分类号 G01R29/00(2006.01)I;G01R25/02(2006.01)I;G01R19/00(2006.01)I;G01N13/10(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R29/00(2006.01)I
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人 王勇
主权项 一种测量材料非线性电极化率系数的方法,包括以下步骤:a)使用具有导电针尖的扫描探针显微镜,在抬高模式下对待测样品表面进行扫描;b)测量驱动针尖振荡的激励交变信号和针尖实际振荡信号之间的相位角差值Δθ随针尖偏压Vt的变化;c)建立针尖的几何模型以及针尖所产生电场的物理模型,并根据测量得到的Δθ与Vt选择合适的函数关系进行拟合,以根据拟合得到的各项系数计算待测样品的电极化率系数。
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