| 发明名称 | 一种记忆卡测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明是关于一种记忆卡测试方法，主要用于自动化测试机，该自动化测试机包括储放管理单元，及一组以上的开卡测试单元，及一组以上的读写测试单元，及移载单元，及控制单元，其步骤为:1).以移载单元将测试物从储放管理单元处移出并送至开卡测试单元;2).开卡测试单元对测试物进行测试;3).通过测试的测试物以移载单元自开卡测试单元处移动至读写测试单元，不通过的测试物则送回储放管理单元对应的置放区；4).读写测试单元对测试物进行读写的测试;5).将测试物依测试结果以移载单元移动至储放管理单元相对应的置放区。其测试效率高，而且测试时间精简，结果正确。 | ||
| 申请公布号 | CN102136298A | 申请公布日期 | 2011.07.27 |
| 申请号 | CN201010612139.3 | 申请日期 | 2010.12.29 |
| 申请人 | 东莞矽德半导体有限公司 | 发明人 | 陈志明 |
| 分类号 | G11C29/08(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 东莞市中正知识产权事务所 44231 | 代理人 | 刘林 |
| 主权项 | 一种记忆卡测试方法，主要用于自动化测试机，该自动化测试机包括储放管理单元，及一组以上的开卡测试单元，及一组以上的读写测试单元，及移载单元，及控制单元，其步骤为:1).以移载单元将测试物从储放管理单元处移出并送至开卡测试单元;2).开卡测试单元对测试物进行测试;3).通过测试的测试物以移载单元自开卡测试单元处移动至读写测试单元，不通过的测试物则送回储放管理单元对应的置放区；4).读写测试单元对测试物进行读写的测试;5).将测试物依测试结果以移载单元移动至储放管理单元相对应的置放区。 | ||
| 地址 | 523000 广东省东莞市清溪镇第二工业区东莞矽德半导体有限公司 | ||