发明名称 具有较佳测试特性之电子控制装置
摘要
申请公布号 TWI345751 申请公布日期 2011.07.21
申请号 TW092116249 申请日期 2003.06.16
申请人 AKT电子束科技股份有限公司 发明人 马修斯布伦纳
分类号 G09G3/20;G01M11/00 主分类号 G09G3/20
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 一种具有显像元件矩阵之光电子装置控制用之电子控制装置,其特征为包含:一驱动电路(102x),其具有各输入端(110)和各输出端(112),该各输入端(110)用以接收信号,该各输出端(112)用以提供信号至该显像元件矩阵,以于正常操作期间该显像元件矩阵之图像产生,及以于该显像元件矩阵之测试模式期间测试图样的产生;一由各接触面(104a,104b)所形成之第一配置,其是与该驱动电路(102x)之输入端相连;一由各接触面(105a,105b)所形成之第二配置,其是与该驱动电路(102x)之输入端相连;其中由各接触面所形成之第二配置之各接触面(105a,105b)大于由各接触面所形成之第一配置之各接触面(104a,104b),并被构成为藉由一外部控制而被接触,以传送自该外部控制之一外部信号至该驱动电路(102x);其中,该驱动电路包括一电路,其用以处理传送自该由各接触面所形成之第二配置之各接触面(105a,105b)之该外部信号以产生该测试图样。如申请专利范围第1项之电子控制装置,其中该驱动电路(102x)之输入端(藉此使接触面(105a,105b)所构成之第二配置可与该驱动电路相连接)之数目最多是该驱动电路之输出端(藉此使显像元件(101)之矩阵之各控制线(103x)可与该驱动电路相连接)之数目之5%。如申请专利范围第2项之电子控制装置,其中由各接触面(104a,104b)所形成之第一配置在一般操作期间用来产生图像;由各接触面(105a,105b)所形成之第二配置在测试期间用来产生图样。如申请专利范围第1至3项中任一项之电子控制装置,其中由各接触面(105a,105b)所形成之第二配置经由各接触面(104a,104b)所形成之第一配置而与该驱动电路(102x)相连。如申请专利范围第4项之电子控制装置,其中由各接触面(105a,105b)所形成之第二配置经由各接触面(104a,104b)所形成之第一配置藉由开关元件或组件而与该驱动电路(102x)相连。如申请专利范围第4项之电子控制装置,其中由各接触面(105a,105b)所形成之第二配置经由各接触面(104a,104b)所形成之第一配置而直接与该驱动电路(102x)相连。如申请专利范围第1至3项中任一项之电子控制装置,其中由各接触面(105a,105b)所形成之第二配置经由一测试电子装置(202x)而与该驱动电路(102x)相连。如申请专利范围第1至3项中任一项之电子控制装置,其中由各接触面(105a,105b)所形成之第二配置直接与该驱动电路相连。如申请专利范围第8项之电子控制装置,其中该驱动电路中积体化着各测试电路。如申请专利范围第1至3项中任一项之电子控制装置,其中由各接触面(105a,105b)所形成之第二配置之第二垫(105b)之数目最多是由各接触面(104a,104b)所形成之第一配置之第一垫(104b)之数目之90%,较佳是50%,特别好之情况是20%。如申请专利范围第1至3项中任一项之电子控制装置,其中由各接触面所形成之第二配置之第二垫(105b)大于由各接触面所形成之第一配置之第一垫(104b)。如申请专利范围第1至3项中任一项之电子控制装置,其中由各接触面所形成之第二配置之第二垫(105b)具有至少100 um之大小,较佳是0.5 mm,特别好之情况是2 mm。一种光电子装置,其特征为包含:一由各显像元件(101)所形成之矩阵;及如申请专利范围第1至12项任一项之电子控制装置。如申请专利范围第13项之光电子装置,其中第二配置之至少一部分与各接触面分离。一种光电子装置之测试方法,其特征为以下各步骤:a)在一外部之控制件与一由各测试接触面所形成之配置之间形成一接触区,而该测试接触面大于操作用接触面;b)经由该由各测试接触面所形成之配置使各输入信号供应至一驱动电路之输入端,以便在各显像元件所形成之矩阵上产生一测试图样;c)对各显像元件所形成之矩阵之各显像元件进行测试。如申请专利范围第15项之测试方法,其中该输入信号产生一种周期性测试图样。如申请专利范围第15项之测试方法,其中该输入信号产生一种垂直、水平、或对角周期性测试图样。如申请专利范围第15至17项中任一项之测试方法,其中各显像元件是以已充电之微粒射线或雷射辐射来测试。如申请专利范围第15至17项中任一项之测试方法,其中包含另一步骤:在该待测试之光电子装置之环境中形成一种真空。如申请专利范围第15至17项中任一项之测试方法,其中步骤c)包含以下之步骤:c1)各显像元件在由显像元件所构成之矩阵之一区域中测试;c2)使该光电子装置偏移;c3)各显像元在由显像元件所构成之矩阵之另一区域中测试。一种具有显像元件矩阵之光电子装置之电子控制装置之制造方法,其具有以下之步骤:a)使用一驱动电路;b)由显像元件所构成之矩阵之控制线须与该驱动电路之输出端相连;c)使用一由各接触面所形成之第一配置;d)由各接触面所形成之第一配置须与该驱动电路之输入端相连;e)使用一由各接触面所形成之第二配置,而该第二配置之各接触面大于由各接触面所形成之第一配置之各接触面;f)由各接触面所形成之第二配置须与该驱动电路之输入端相连。
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