| 发明名称 | 基于合成波长的激光波长测量方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种基于合成波长的激光波长测量方法及装置。选用一个波长稳定度较高的激光器作为参考激光器，参考激光器的光束和待测激光器的光束被调制为正交线偏振光后，入射同一迈克尔逊干涉仪，分别形成各自的干涉信号。当迈克尔逊干涉仪中的测量臂移动时，参考光和待测光的干涉信号的相位关系将发生变化，当这两路干涉信号的相位差变化2π时对应于测量臂移动半个由参考光和待测光形成的合成波长的位移。通过检测两路干涉信号两次同时过零点位置便可测得合成波长值，根据待测激光波长和参考激光波长与合成波长之间的关系，即可得到待测激光的波长值。本发明具有较强的环境抗干扰能力，波长测量精度可以达到10-8以上，成本低，易于实用化。 | ||
| 申请公布号 | CN101832821B | 申请公布日期 | 2011.07.20 |
| 申请号 | CN201010140137.9 | 申请日期 | 2010.04.02 |
| 申请人 | 浙江理工大学 | 发明人 | 陈本永;严利平;杨涛;李超荣;唐为华 |
| 分类号 | G01J9/02(2006.01)I | 主分类号 | G01J9/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人 | 林怀禹 |
| 主权项 | 一种基于合成波长的激光波长测量方法，其特征在于：参考激光器和待测激光器的光束经各自的检偏器后，成为正交线偏振光，入射到迈克尔逊干涉仪，形成各自的干涉信号分别由两个探测器接收；当迈克尔逊干涉仪中的测量臂移动时，参考光和待测光的干涉信号的相位关系将发生变化；当这两路干涉信号相位差变化2π时，对应于测量臂移动半个合成波长的位移；因此，通过检测这两路干涉信号的两次同时过零点的位置，便能测得合成波长值，根据待测激光波长λU和参考激光波长λR与合成波长λS之间的关系，即能得到待测激光的波长为： <mrow> <msub> <mi>λ</mi> <mi>U</mi> </msub> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <msub> <mi>λ</mi> <mi>S</mi> </msub> <msub> <mi>λ</mi> <mi>R</mi> </msub> </mrow> <mrow> <msub> <mi>λ</mi> <mi>S</mi> </msub> <mo>±</mo> <msub> <mi>λ</mi> <mi>R</mi> </msub> </mrow> </mfrac> <mo>.</mo> </mrow> | ||
| 地址 | 310018 浙江省杭州市江干区经济技术开发区白杨街道2号大街5号 | ||