发明名称 半导体器件的制造方法
摘要 本发明公开了一种多晶硅层的制造方法,该方法能够用于诸如SRAM等半导体器件的制造中。所述半导体器件的制造方法包括以下步骤:在半导体基底上形成所述半导体器件中所包含的晶体管;在所述晶体管上形成绝缘层;通过选择性去除所述绝缘层来形成接触孔,通过所述接触孔露出所述晶体管的区域;在所述接触孔中形成硅层;在所述绝缘层和所述硅层上形成金属层;通过对所述硅层和所述金属层进行热处理来形成金属硅化物层;去掉所述金属层;在所述绝缘层和所述金属硅化物层上形成非晶硅层;以及通过对所述非晶硅层进行热处理来形成多晶硅层。
申请公布号 CN101589463B 申请公布日期 2011.07.06
申请号 CN200880002513.9 申请日期 2008.01.18
申请人 泰拉半导体株式会社 发明人 张泽龙;李炳一;李永浩;张锡弼
分类号 H01L21/8242(2006.01)I 主分类号 H01L21/8242(2006.01)I
代理机构 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人 陈英俊
主权项 一种半导体器件的制造方法,包括以下步骤:在半导体基底上形成所述半导体器件中所包含的晶体管;在所述晶体管上形成绝缘层;通过选择性去除所述绝缘层来形成接触孔,通过所述接触孔露出所述晶体管的区域;在所述接触孔中形成硅层;在所述绝缘层和所述硅层上形成用作催化剂的金属层;通过对所述硅层和所述金属层进行热处理来形成金属硅化物层;去掉未形成金属硅化物的剩余金属层;在所述绝缘层和所述金属硅化物层上形成非晶硅层;以及利用作为催化剂的所述金属硅化物层,通过对所述非晶硅层进行热处理来形成多晶硅层。
地址 韩国京畿道