发明名称 光学编码器及其控制装置
摘要
申请公布号 TWI344538 申请公布日期 2011.07.01
申请号 TW094126960 申请日期 2005.08.09
申请人 台达电子工业股份有限公司 发明人 蔡清雄;陈建达;林孟璋;林正平
分类号 G01D5/34 主分类号 G01D5/34
代理机构 代理人 谢佩玲 台北市大安区罗斯福路2段107号12楼
主权项 一种光学编码器,包含:一光源;一有蚀刻记号之玻璃片;一光感测晶片,可以接收该光源照射到该玻璃片之结果,以产生相位相差90度之周期讯号;及一控制装置,电连接至该光感测晶片,可接收光感测晶片之输出讯号以判断该玻璃片之位移资讯,其中该控制装置包含:一对类比放大器,可将自光感测晶片输出之相位相差90度之周期讯号放大;一对类比数位转换器,电连接至该对类比放大器,以将类比放大器之输出转换成数位讯号;一对磁滞比较器,电连接至该光感测晶片,可接收光感测晶片之输出讯号以作磁滞比较;一计数器,电连接到该对磁滞比较器,可以依据磁滞比较器之输出进行向上(Up)或是向下(Down)计数;及一韧体单元,可以接收该对类比数位转换器及该计数器之输出,以得到玻璃片之位移资讯。如申请专利范围第1项之光学编码器,其中该相位相差90度之周期讯号为正弦及余弦讯号。如申请专利范围第1项之光学编码器,其中该韧体单元可以依据该对类比数位转换器之输出进行倍频处理。如申请专利范围第1项之光学编码器,其中该韧体单元可以依据该对类比数位转换器之输出而得到位移资讯之角度i>θ/i>。如申请专利范围第4项之光学编码器,其中该光学编码器可以依据该对磁滞比较器之输出决定到位移资讯之角度i>θ/i>系在哪一象限。如申请专利范围第1项之光学编码器,其中更包含一连接于该光感测晶片及该韧体单元之间的一第三磁滞比较器,可将来自该光感测晶片之一圈数讯号z进行磁滞比较,以将圈数讯号z数位化。一种光学编码器控制装置,可以处理来自一光感测晶片之输出讯号,该光感测晶片系接收一光源照射到一有蚀刻记号之玻璃片之结果,以产生相位相差90度之周期讯号,该控制装置包含:一对类比放大器,可将自光感测晶片输出之相位相差90度之周期讯号放大;一对类比数位转换器,电连接至该对类比放大器,以将类比放大器之输出转换成数位讯号;一对磁滞比较器,电连接至该光感测晶片,可接收光感测晶片之输出讯号以作磁滞比较;一计数器,电连接到该对磁滞比较器,可以依据磁滞比较器之输出进行向上(Up)或是向下(Down)计数;及一韧体单元,可以接收该对类比数位转换器及该计数器之输出,以得到玻璃片之位移资讯。如申请专利范围第7项之光学编码器控制装置,其中该相位相差90度之周期讯号为正弦及余弦讯号。如申请专利范围第7项之光学编码器控制装置,其中该韧体单元可以依据该对类比数位转换器之输出进行倍频处理。如申请专利范围第7项之光学编码器控制装置,其中该韧体单元可以依据该对类比数位转换器之输出而得到位移资讯之角度i>θ/i>。如申请专利范围第10项之光学编码器控制装置,其中该光学编码器可以依据该对磁滞比较器之输出决定到位移资讯之角度i>θ/i>系在哪一象限。如申请专利范围第7项之光学编码器控制装置,其中更包含一连接于该光感测晶片及该韧体单元之间的一第三磁滞比较器,可将来自该光感测晶片之一圈数讯号z进行磁滞比较,以将圈数讯号z数位化。一种光学编码器控制装置方法,该光学编码器包含一光感测晶片,可以接收一光源照射到一玻璃片之结果,以产生相位相差90度之周期讯号;一对类比放大器,可将自光感测晶片输出之相位相差90度之周期讯号放大;一对类比数位转换器,电连接至该对类比放大器,以将类比放大器之输出转换成数位讯号;一对磁滞比较器,电连接至该光感测晶片,可接收光感测晶片之输出讯号以作磁滞比较;一计数器,电连接到该对磁滞比较器,可以依据磁滞比较器之输出进行向上(Up)或是向下(Down)计数;该控制装置方法包含下列步骤:读取计数器输出;若计数器输出改变,则将位移资讯之角度i>θ/i>归零;若计数器输出未改变,则藉由类比放大器之输出得到位移资讯之角度i>θ/i>,及经由磁滞比较器之输出修正位移资讯之角度i>θ/i>象限;及输出计数器之一计数值及位移资讯之角度i>θ/i>。
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