发明名称 一种半导体激光器特性测试系统
摘要 本发明公开了一种半导体激光器特性测试系统,包括半导体激光器驱动器、三维平行导轨、激光器温度控制模块、LIV和光谱测试模块、偏振测试模块、近场光斑测试模块、近场非线性测试模块、远场测试模块、空间光谱测试模块、软件处理模块。同时可根据需要选择工作模块。本发明用于对半导体激光器,尤其是高功率半导体激光器的高精度和自动化测试,降低半导体激光器的检测和生产制造成本。
申请公布号 CN102109571A 申请公布日期 2011.06.29
申请号 CN201010591449.1 申请日期 2010.12.16
申请人 西安炬光科技有限公司 发明人 刘兴胜;吴迪;张彦鑫;杨凯;李锋
分类号 G01R31/26(2006.01)I;H01S5/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/26(2006.01)I
代理机构 西安西交通盛知识产权代理有限责任公司 61217 代理人 罗永娟
主权项 一种半导体激光器特性测试系统,包括一光学平台(1)和计算机系统,其特征在于:所述光学平台(1)上固定设有二维平移导轨(2),所述二维平移导轨(2)通过滑块固定设有激光器固定座,所述激光器固定座上设有被测激光器(4),所述激光器固定座上还设有控制被测激光器(4)温度的激光器温度控制模块,所述二维平移导轨(2)的旁侧排列有分别与所述计算机系统相连的LIV和光谱测试模块、偏振测试模块、近场光斑测试模块、近场非线性测试模块、远场测试模块以及空间光谱测试模块的一个或者多个;所述被测激光器(4)通过半导体激光器驱动器(5)与计算机系统连接。
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