发明名称 Verfahren zur Bestimmung einer Hintergrundphase in Phasenbilddatensätzen
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung einer Hintergrundphase in Phasenwerten eines Phasenbilddatensatzes, der von einem Untersuchungsobjekt aufgenommen wird, wobei die Hintergrundphase in einem Teilbereich (34) des Phasenbilddatensatzes bestimmt wird, mit den folgenden Schritten: – Aufnehmen des Phasenbilddatensatzes von dem Untersuchungsobjekt, – Festlegen einer zumindest fast geschlossenen flächigen Kontur (31) in dem Phasenbilddatensatz um den Teilbereich (34), wobei die flächige Kontur eine Konturfläche mit einer Breite von mindestens einem Bildpunkt des Phasenbilddatensatzes hat, – Bestimmen der Phasenwerte in dem Teilbereich mit der Annahme, dass der räumliche Verlauf der Hintergrundphase einer harmonischen oder quasiharmonischen Funktion ist, wobei die Phasenwerte der Bildpunkte im Teilbereich auf Grundlage der Phasenwerte in der flächigen Kontur (31) bestimmt werden.
申请公布号 DE102009058510(A1) 申请公布日期 2011.06.22
申请号 DE200910058510 申请日期 2009.12.16
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 GROSS, PATRICK, DR.;ROLAND, JOERG, DR.;SALOMIR, RARES, DR.;VIALLON, MAGALIE, DR.
分类号 G01R33/54;G01R33/483;G01R33/565 主分类号 G01R33/54
代理机构 代理人
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